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ROHS检测仪与X荧光光谱仪

阅读次数:649    发布时间:2019/7/3 15:48:56

 X荧光光谱仪和RoHS检测仪,两者是包含和被包含的关系所存在的,也就是说X荧光光谱仪是比RoHS检测仪的范围要大的多的。RoHS检测仪是属于X荧光光谱仪的一个分类,这么理解就比较简单了。

       X荧光光谱仪有两种基本类型:即波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。以X荧光的波粒二象性中波波长特征为原理的一类仪器,称为波长色散型,而以能量特征为原理的一类仪器,即称为能量色散型。

       X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以 测定元素含量。近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得*多也*广泛。大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。如图为X荧光光谱仪的原理图:

 

ROHS检测仪与X荧光光谱仪是一回事吗
RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪
 
又分为能量色散型和波长色散型,能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单,现市场上比较常见,其技术原理:
 
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪,其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类,波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF),波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等,而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件,相对简单。
 
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线,根据Bragg定律,通过测定角度,即可获得待测元素的谱线波长:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)式中 ,λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角,利用上式可以计算相应被分析元素的波长,从而获得待测元素的特征信息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器,通过测定由探测器收集到的电荷量,直接获得被测元素发出的特征射线能量:
Q=kE式中,K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比,故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。为获得样品的定性和定量信息,除光谱仪外,还必须采用一定的样品制备技术,并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
 
RoHS检测仪也就是X射线荧光光谱仪
 
其中*经济*实用的的也就是ED-XRF类仪器,也就是能量色散型荧光光谱仪器,今天给大家推荐页是这款原理的仪器。不需要制备样品,省去了很多中间繁琐的样品制备时间,检测时间在几十秒甚至几秒即可呈现较为准确的检测结果。如图既是其原理图:
 
 
ROHS检测仪与X荧光光谱仪是一回事吗
 
 
 
 
天瑞能量色散型RoHS检测仪(ED-XRF)类仪器特点:
 

精准: ppm级精确度,可靠的检测数据
快速:3秒内可对样品定性识别,60秒内可得出测试结果
直观:高清晰图形即时显示,检测结果直观明了
安全:加装防辐射装置,主动保护操作人员安全
经济:价格便宜,测试过程基本不需要任何耗材

1、无需对样品做前期处理,简单、方便、快捷地实现贵重金属的无损检测。
2、具有自主知识产权的探测器保护装置,能大限度保护探测器,延长其使用寿命,降低客户使用成本。
3、独创自动选择校准曲线功能,保证贵金属测试结果的准确可靠。
4、自主研发的形状补偿功能,能根据样品的形状大小,自动实现形状补偿。
5、采用高清晰摄像头对首饰进行精确定位。
6、高精度数字多道采集系统,解决峰道漂移带来误差。
7、独特的智能风冷实现仪器冷却的智能化。
8、集成工业计算机,采用一键式操作界面,操作灵活,使用方便,即学即会。
9、一键式打印功能,轻松实现测量报告打印。
 

推荐一台使用经济型的RoHS检测仪器:
截图20170516084323.jpg

 


 
 
 
该仪器的主要参数指标:
 
检测原理:能量色散X射线荧光分析法
检出限:≤1PPM
扩展不确定度:≤0.19%
镀层测量:镀层厚度范围<30um
滤光系统:16种复合滤光片任意组合
探测器:SDD探测器(美国进口)
分辨率:125ev±5
摄像头:高清晰摄像定位系统
软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
内置电容触摸LED屏:外置22寸显示器
样品种类:固体、粉末。颗粒、液体
元素检测范围:从钠Na-U
测试时间:30S

原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司

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