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产品名称：电镀化学镍的厚度检测

产品价格：

产品产地：中国大陆

访问次数：253

发布时间：2017/11/7 10:05:12

简介内容：

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详细内容

电镀化学镍的厚度检测

仪器介绍

天瑞仪器生产的Thick800A（关键部件元是进口的）已通过了江苏省科技厅的验收，目前已累计销售贰万多台。华为，三星，海尔，美菱等企业先后组织人员到我司考察后，选择了我司仪器。主要原因是在满足客户检测需求的情况下，价格更优惠，售后服务成本更低廉。

镀层厚度测试方法般有以下几种方法：

1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005

3.库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

测量标准

1.标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金属覆盖层覆盖层厚度测量X射线光谱方法

2.美标准A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

仪器配置

1 硬件：主机壹台，含下列主要部件：

①X光管

②半导体探测器

③放大电路

④高精度样品移动平台

⑤高清晰摄像头

⑥高压系统

⑦上照、开放式样品腔

⑧双激光定位

⑨玻璃屏蔽罩

2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

3 计算机、打印机各台

计算机（品牌，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）

4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。

5 标准附件

准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）

仪器技术参数

1.x射线电镀层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；

2.软件可分析高5层25种元素镀层；

3.通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；

4.配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；

5.内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；

6.高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

7.外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

8.样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

9.样品台尺寸：230(W)×210(D)mm

10.移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm

11.Z轴升降平台升降范围：0-140mm

仪器性能特点及优势

1.高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

2.采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

3.φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

4.定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

5.鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

6.高分辨率探头使分析结果更加，微小测试点更。

7.X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。

安装要求

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 工作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。

厂家介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司是内早研发生产X荧光光谱仪的厂家，分析仪器上市企业，在X荧光领域，打破了外（日本岛津，精工，美热电，德斯派克等）垄断局面，近几年在市场上的占有率越来越高，产品质量及售后服务是我们的优势，维护方便及时，成本低廉，为客户提供360度服务。

天瑞仪器将以“行业技术”的姿态，不断探究分析领域的。为客户提供更加的产品和更加满意的服务。

更新时间：2024/4/30 10:32:32

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